Сучасні підходи до підвищення метрологічної надійності інформаційно-вимірювальних систем

Abstract

UK: У статті розглянуто питання метрологічної надійності інформаційно-вимірювальних систем (ІВС), яка виступає критичним фактором забезпечення точності та достовірності вимірювань у різних галузях науки та техніки. Основна мета дослідження проаналізувати шляхи підвищення метрологічної надійності ІВС по всім напрямкам процесу збору дослідних даних згідно існуючих алгоритмів вимірювання. Застосування комплексного підходу до підвищення метрологічної надійності інформаційно-вимірювальних систем дозволяє значно покращити якість вимірювань у різних сферах – від промислового контролю до медичних досліджень та наукових експериментів.